检测领域的微观及形貌测试聚焦于材料表面及内部结构的精细化表征。微观测试通过扫描电镜（SEM）、透射电镜（TEM）等技术，解析材料晶粒尺寸、相分布及缺陷特征，揭示原子/分子层面的结构信息。形貌测试则利用原子力显微镜（AFM）、激光共聚焦显微镜等工具，定量分析表面粗糙度、三维形貌及纳米级拓扑结构。两类测试广泛应用于材料科学、半导体制造及生物医学领域，可评估材料性能、工艺质量及失效机理。现代技术结合AI算法与高精度传感器，实现亚纳米级分辨率、三维重构及原位动态观测，为新材料研发和工业品控提供关键数据支撑。